3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀
簡(jiǎn)要描述:
Trimos TR-Scan 3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀 ,系統采用TRIMOS技術(shù)數字全息三維顯微測量技術(shù)(DHM),廣泛應用于高精密微觀(guān)表面檢查。與傳統非接觸測量技術(shù)相比,測量速度快,對震動(dòng)不敏感,真正的實(shí)現三維形貌納米級測量。
產(chǎn)品時(shí)間:2020-03-12
TR-Scan 3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀
TR-Scan系列非接觸表面微觀(guān)形貌(粗糙度)測量?jì)x,系統采用TRIMOS技術(shù)數字全息三維顯微測量技術(shù)(DHM),廣泛應用于高精密微觀(guān)表面檢查。與傳統非接觸測量技術(shù)相比,測量速度快,對震動(dòng)不敏感,真正的實(shí)現三維形貌納米級測量。模塊化的設計理念,可配置共焦顯微系統, 探針測量系統,傳感器直接更換,方便快捷,極大的滿(mǎn)足了不同的應用范圍。即可用于計量單位和材料科學(xué)研發(fā)實(shí)驗室,也廣泛應用在工業(yè)制造領(lǐng)域:汽車(chē)、航天、航空、表面涂層、醫療產(chǎn)品、微型電機系統、半導體等行業(yè)。
3D光學(xué)表面輪廓粗糙度儀主要特點(diǎn):
◆ 非接觸式測量原理,無(wú)損化檢測粗糙度,微觀(guān)形貌
◆ *的數字全息三維顯微技術(shù),真正實(shí)現3D微觀(guān)形貌測量
◆ 創(chuàng )新的成像原理,從原理上保證了對外界振動(dòng)不敏感,Z軸分辨率高
◆ 激光找正工件并自動(dòng)定位,測量速度快
◆ 模塊化的設計概念,多種光學(xué)光路原理,直接更換傳感器,不需要調整,方便快捷
◆ 可非標定制相應的測量頭,滿(mǎn)足不同客戶(hù)的特殊工件測量要求
◆ 即可選用數字全息技術(shù)實(shí)現高精密表面測量,也可選用色譜共焦技術(shù)實(shí)現微觀(guān)輪廓測量或選用接觸式探針實(shí) 現內壁粗糙度測量
◆ 慣用了Trimos“智能用戶(hù)界面”的理念,測量過(guò)程全 自動(dòng),操作簡(jiǎn)單
◆ 采用專(zhuān)業(yè)的3D形貌分析軟件,功能強大,即可實(shí)現2D輪廓測量,也可進(jìn)行3D形貌分析
◆ 可進(jìn)行編程批量檢測并自動(dòng)生成分析報告
◆ *兼容2D標準,并已內置即將制定的3D標準
軟件特點(diǎn):
TRIMOS NanoWare軟件,擁有的評價(jià)標準程序來(lái)實(shí)時(shí)更新標準測量符合以下標準:ISO (4287、4288、11562、1101、12085、13563等),法國標準NF,制造標準CNOMO,ASME (B46.1) 和DIN標準;三維表面特征數據標準ISO 25178系列同樣有效。
TRIMOS® NanoWare LT特點(diǎn):
用于二維輪廓粗糙度測量分析的基本模塊。操作簡(jiǎn)便,包含用于表面檢查,分析形貌,粗糙度和波紋度測量的重要功能。
◆ 常用參數要求數據Ra、Rq、Rt、線(xiàn)性材料曲率
◆ 過(guò)濾方式、水平、放大
◆ 所有測量可復現三維形貌
TRIMOS® NanoWare STT:
◆ 3軸測量基本模塊. 包含分析輪廓的所有功能及 符合ISO 25178表面分析
◆ 3D基本參數(Sa, Sq, St, Smr, ...)
◆ 表面圖形仿真
◆ 距離, 高度及角度測量
◆ 成型, 拉平, 視圖等濾波器
◆ zui終結果管理
◆ 測量點(diǎn)管理/再采集
◆ 輪廓提取, 體積測量
TRIMOS® NanoWare PRO:
2D及3D表面特征評估zui完整版本。此模塊綜合了表面測量領(lǐng)域15年以來(lái)的經(jīng)驗。
◆ 市場(chǎng)上zui高性能的軟件
◆ 表面圖層研究
◆ 3D形貌鑒定
◆ 表面及輪廓統計分析及研究
可選測頭:
TR-Scan 3D光學(xué)輪廓粗糙度儀應用示例: